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Literaturnachweis - Detailanzeige

 
Autor/inn/enSnyder, Scott; Sheehan, Robert
TitelRasch Analysis of the Standardization Data of the Bayley Mental Scale of Infant Development.
QuelleIn: Diagnostique, 17 (1992) 3, S.185-94Verfügbarkeit 
Spracheenglisch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN0737-2477
SchlagwörterChild Development; Cognitive Tests; Concurrent Validity; Construct Validity; Infants; Intelligence Tests; Item Analysis; Psychometrics; Standardized Tests; Test Reliability; Test Validity; Toddlers; Bayley Scales of Infant Development
AbstractRasch calibration procedures were applied to item-response data for the 1,262 infants and toddlers comprising the standardization sample for the Mental Scale of the Bayley Scales of Infant Development. Analyses tend to confirm the psychometric integrity of the instrument. (Author)
Erfasst vonERIC (Education Resources Information Center), Washington, DC
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