Influence of Curved Surface Roughness on White Light Interferometer Microscopy

DIPF | Leibniz-Institut für Bildungsforschung und Bildungsinformation

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Autor/in	Williams, Hollis
Titel	Influence of Curved Surface Roughness on White Light Interferometer Microscopy
Quelle	In: Physics Education, 57 (2022) 1, Artikel 015001 (7 Seiten)Infoseite zur Zeitschrift PDF als Volltext Verfügbarkeit
Zusatzinformation	ORCID (Williams, Hollis)
Sprache	englisch
Dokumenttyp	gedruckt; online; Zeitschriftenaufsatz
ISSN	0031-9120
Schlagwörter	Physics; Science Instruction; Light; Laboratory Equipment; Science Laboratories; Optics; Scientific Concepts; Concept Formation; Measurement; Secondary School Science + Suchen Sie Ihr Suchwort? Physik; Teaching of science; Science education; Natural sciences Lessons; Naturwissenschaftlicher Unterricht; Licht; Laborausstattung; Optik; Concept learning; Begriffsbildung; Messverfahren
Abstract	We outline the basic theory behind white light interferometry and the workings of a typical light interferometer microscope. We study WLI images obtained for rough and smooth chrome steel spheres to illustrate the principle that curved rough surfaces can be imaged with such a device as long as the surface roughness is kept within certain limits. (As Provided).
Anmerkungen	IOP Publishing. 190 North Independence Mall West Suite 601, Philadelphia, PA 19106. Tel: 215-627-0880; Fax: 215-627-0879; e-mail: ped@ioppublishing.org; Web site: https://iopscience.iop.org/journal/0031-9120
Erfasst von	ERIC (Education Resources Information Center), Washington, DC
Update	2024/1/01

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